Для визы в США нужно сдавать отпечатки пальцев
Программа на первом этапе предполагает сканирование отпечатков указательных пальцев правой и левой руки. Полученные отпечатки будут прикладываться к другой информации, удостоверяющей личность заявителя. По оценке посольства, это призвано предотвратить подделку въездных документов, а в перспективе - облегчить замену потерянных или украденных паспортов и виз.
В диппредставительстве сообщили, что процедура сбора биометрических данных будет введена во всех посольствах и консульских учреждениях США в мире к 26 октября 2004г. Такой срок установлен американским конгрессом для выполнения этой новой программы.
Новые правила будут касаться всех желающих получить американскую неиммиграционную визу в возрасте старше 14 и моложе 80 лет, сообщили в посольстве. Исключение будет сделано для дипломатов, официальных лиц, отправляющихся в командировки, и больных, нуждающихся в срочном лечении.
Стоит отметить, что власти США вводят "визовые" новшества уже не в первый раз. Так, 22 июля с.г. посольство Соединенных Штатов в Москве ввело новую форму заявления на получение виз для российских граждан - с 1 августа 2003г. для получения неиммиграционной визы практически всем подателям заявлений необходимо лично проходить собеседование.
Заявления необходимо стало заполнять в двух экземплярах печатными буквами, а фотографии для получения виз должны быть сделаны в фас и без рамки. Кроме того, посольство США высказало пожелание, чтобы на фото была четко видна форма ушей.
Стала известна дата визита Путина в Китай
Китай запустил миссию по сбору грунта с обратной стороны Луны. Видео
В Кремле прокомментировали заявление Макрона об отправке войск на Украину
Советники Украины перед началом военных действий советовали ей сдаться
США начали перебрасывать из ОАЭ в Катар истребители и беспилотники
В Госдуме предложили легализовать продажу «красивых» автономеров
Apple объявила о самом крупном байбэке за всю историю рынка США
В США женщина дважды за 10 недель выиграла $1 млн в лотерею
Жулин раскрыл тайну фигуристов о полупьяных прокатах
